La spectroscopie par émission optique offre une excellente précision analytique pour les alliages d'aluminium à haute réflectivité lorsque des méthodologies appropriées sont employées, atteignant généralement des précisions relatives de 0,5 à 2 % pour les principaux éléments d'alliage et de 5 à 15 % pour les éléments traces, selon les niveaux de concentration. La haute réflectivité des alliages d'aluminium présente une interférence minimale pour les instruments OES modernes, car la décharge par étincelle crée un plasma localisé qui vaporise et excite efficacement la surface de l'échantillon, indépendamment de la réflectivité optique. Cette capacité est particulièrement précieuse pour vérifier la composition des Alliages d'aluminium utilisés dans les procédés de Fusion sur lit de poudre à travers les industries, y compris l'Aérospatial et l'aviation et l'Automobile.
L'exigence primordiale pour une analyse précise des alliages d'aluminium est une préparation de surface impeccable. Les alliages à haute réflectivité doivent être usinés ou meulés pour créer une surface fraîche et exempte de contamination, car l'analyse ne pénètre que de quelques microns dans le matériau. La surface préparée doit être plate et lisse pour assurer une décharge par étincelle constante et éviter les espaces d'air entre l'échantillon et l'ouverture du spectromètre. Une préparation adéquate est tout aussi critique pour les autres matériaux métalliques que nous analysons, y compris les composants en Alliage de titane et en Acier inoxydable, bien que la douceur de l'aluminium nécessite des abrasifs spécifiques pour éviter d'incruster des contaminants.
Les instruments OES modernes utilisent des courbes d'étalonnage spécifiques aux alliages optimisées pour les caractéristiques spectrales de l'aluminium. Nous maintenons des programmes d'étalonnage spécialisés pour les nuances d'aluminium courantes, y compris celles utilisées en fabrication additive, telles que AlSi10Mg et AlSi12. L'analyse prend en compte les raies spectrales uniques de l'aluminium et les interférences potentielles, avec des limites de détection allant généralement de 1 à 10 ppm pour des éléments critiques tels que le magnésium, le silicium, le cuivre et le zinc. Cet étalonnage précis garantit une certification fiable des matériaux pour les composants qui peuvent ensuite subir des procédés de Traitement thermique ou de Pressage isostatique à chaud (HIP).
L'OES démontre une performance supérieure pour l'analyse des alliages d'aluminium par rapport à de nombreuses techniques alternatives. Contrairement à la fluorescence X, l'OES mesure efficacement les éléments légers, y compris le magnésium, qui est crucial pour la spécification des alliages d'aluminium. La technique offre des limites de détection et une précision nettement améliorées pour les éléments traces par rapport aux appareils XRF portables, ce qui en fait la méthode préférée pour le contrôle qualité des composants critiques dans les applications Médicales et de santé, ainsi que pour l'électronique grand public. Pour les matériaux non métalliques tels que la Céramique ou les Plastiques, des techniques alternatives restent nécessaires car l'OES nécessite une conductivité électrique.
Bien que l'OES excelle dans l'analyse de la composition globale, la capacité d'analyse par micro-point est limitée par rapport à des techniques comme le MEB/EDS. Pour examiner la microségrégation dans les composants de fabrication additive à l'état brut ou analyser des caractéristiques spécifiques dans des pièces produites via le Binder Jetting, nous recommandons souvent une analyse corrélative utilisant à la fois l'OES pour la composition globale et le MEB/EDS pour la distribution élémentaire microstructurale. Cette approche globale fournit une caractérisation complète du matériau pour les applications exigeantes où à la fois la chimie globale et l'homogénéité microstructurale sont des facteurs de performance critiques.